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              羅工17324413130

              QB輕工業標準解讀:QB/T 5369《半導體制冷器具》

              更新時間
              2025-01-03 20:00:00
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              詳細介紹
              標準編號標準名稱實施日期
              QB/T 5369-2019半導體制冷器具2020/1/1

              本標準規定了家用和類似用途半導體制冷器具的術語和定義、分類與命名、要求、試驗方法、檢驗規則及標志、使用說明、包裝、運輸、貯存。本標準適用于家用和類似用途半導體制冷器具。

              Test Requirement 測試要求:


              標準 / Standard項目/參數 / Test Items檢測標準(方法) / Test Method tecert.com
              半導體制冷器具 QB/T 5369-2019總容積半導體制冷器具 QB/T 5369-2019 第6.1條
              儲藏溫度半導體制冷器具 QB/T 5369-2019 第6.2條
              耗電量試驗半導體制冷器具 QB/T 5369-2019 第6.3條
              Zui大制冷溫差半導體制冷器具 QB/T 5369-2019 第6.4條
              凝露試驗半導體制冷器具 QB/T 5369-2019 第6.5條
              門、蓋或抽屜的氣密性半導體制冷器具 QB/T 5369-2019 第6.6條
              門、蓋和抽屜的耐久性半導體制冷器具 QB/T 5369-2019 第6.7條
              擱架和容器及類似部件機械強度半導體制冷器具 QB/T 5369-2019 第6.8條
              電鍍件鹽霧試驗半導體制冷器具 QB/T 5369-2019 第6.9條
              表面涂層半導體制冷器具 QB/T 5369-2019 第6.10條
              噪聲試驗半導體制冷器具 QB/T 5369-2019 第6.11條
              運輸試驗半導體制冷器具 QB/T 5369-2019 第6.12條


              Sample Size 樣品數量 / 送樣規格: on request
              Lead Time / TAT (Turn Around Time) 測試周期: 常規服務 Regular service 7-9 working days

              Report Summary 報告摘要:

               

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              • 檢測工程師:羅卓文
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