國標標準:GB/T 13539.4《低壓熔斷器 第4部分》測試要求
| 更新時間 2025-01-10 20:00:00 價格 請來電詢價 測試周期 5-7天 寄樣地址 深圳寶安 價格費用 電話詳談 聯系電話 17324413130 聯系手機 17324413130 聯系人 羅卓文 立即詢價 |
詳細介紹
此標準為CCC(3C)認證/強制性產品認證檢測標準。
標準編號 | 標準名稱 | 實施日期 | 狀態 |
GB/T 13539.4-2016 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 | 2016/11/1 | 現行 |
標準號 Standard No. | 中文標準名稱 Standard Title in Chinese | 英文標準名稱 Standard Title in English | 狀態 State | 備注 Remark |
GB/T 13539.4-2009 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 | Low-voltage fuses Part 4:Supplementary requirements for fuse-links for the protection of semiconductor devices | 廢止 | 2009-11-01實施 |
GB/T 13539.4-2005 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 | Low-voltage fuses - Part 4: Supplementary requirements for fuse-links for the protection of semiconductor devices | 廢止 | 2006-04-01實施,代替GB 13539.4-1992 |
本部分的補充要求適用于安裝在具有半導體裝置的設備上的熔斷體,該熔斷體適用于標稱電壓不超過交流1 000 V或直流1 500 V的電路。如適用,還可用于更高的標稱電壓的電路。
Test Requirement 測試要求:
標準 / Standard | 項目/參數 / Test Items | 檢測標準(方法) / Test Method tecert.com |
低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 | 標志 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 6 |
尺寸 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.1.4 | |
電阻 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.1.5.1 | |
熔斷器支持件的布置 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.2.1 | |
絕緣性能驗證 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.2.2 | |
隔離適用性驗證 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.2.3 | |
溫升與耗散功率 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.3 | |
約定不熔斷電流與約定熔斷電流驗證 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.4.3.1 | |
熔斷體的額定電流驗證 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.4.3.2 | |
時間-電流特性和門限驗證 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.4.3.3 | |
過載 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.4.3.4 | |
約定電纜過載保護 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.4.3.5 | |
指示裝置和撞擊器動作 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.4.3.6 | |
分斷能力驗證 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.5 | |
截斷電流特性驗證 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.6 | |
I2t特性和過電流選擇性驗證 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.7 | |
外殼防護等級驗證 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.8 | |
耐熱性驗證 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.9 | |
觸頭不變壞驗證 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.10 | |
機械強度 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.11.1 | |
耐應力腐蝕龜裂驗證 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.11.2.1 | |
耐非正常的熱和火驗證 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.11.2.2 | |
耐銹性驗證 | 低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.11.2.3 |
Sample Size 樣品數量 / 送樣規格: on request
Lead Time / TAT (Turn Around Time) 測試周期: 常規服務 Regular service 7-9 working days
Report Summary 報告摘要:
相關產品
聯系方式
- 電 話:17324413130
- 檢測工程師:羅卓文
- 手 機:17324413130