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              羅工17324413130

              國標標準:GB/T 13539.4《低壓熔斷器 第4部分》測試要求

              更新時間
              2025-01-10 20:00:00
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              測試周期
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              詳細介紹

              此標準為CCC(3C)認證/強制性產品認證檢測標準。


              標準編號標準名稱實施日期狀態
              GB/T 13539.4-2016低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求2016/11/1現行


              標準號 Standard No.中文標準名稱 Standard Title in Chinese英文標準名稱 Standard Title in English狀態 State備注 Remark
              GB/T 13539.4-2009低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求Low-voltage fuses Part 4:Supplementary requirements for fuse-links for the protection of semiconductor devices廢止

              2009-11-01實施

              GB/T 13539.4-2005低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求Low-voltage fuses - Part 4: Supplementary requirements for fuse-links for the protection of semiconductor devices廢止

              2006-04-01實施,代替GB 13539.4-1992

              本部分的補充要求適用于安裝在具有半導體裝置的設備上的熔斷體,該熔斷體適用于標稱電壓不超過交流1 000 V或直流1 500 V的電路。如適用,還可用于更高的標稱電壓的電路。

              Test Requirement 測試要求:


              標準 / Standard項目/參數 / Test Items檢測標準(方法) / Test Method tecert.com
              低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016標志低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 6
              尺寸低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.1.4
              電阻低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.1.5.1
              熔斷器支持件的布置低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.2.1
              絕緣性能驗證低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.2.2
              隔離適用性驗證低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.2.3
              溫升與耗散功率低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.3
              約定不熔斷電流與約定熔斷電流驗證低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.4.3.1
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              I2t特性和過電流選擇性驗證低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.7
              外殼防護等級驗證低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.8
              耐熱性驗證低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.9
              觸頭不變壞驗證低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.10
              機械強度低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.11.1
              耐應力腐蝕龜裂驗證低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.11.2.1
              耐非正常的熱和火驗證低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.11.2.2
              耐銹性驗證低壓熔斷器 第4部分:半導體設備保護用熔斷體的補充要求 GB/T 13539.4-2016 8.11.2.3


              Sample Size 樣品數量 / 送樣規格: on request
              Lead Time / TAT (Turn Around Time) 測試周期: 常規服務 Regular service 7-9 working days

              Report Summary 報告摘要:

               

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