國標標準：GB/T 17473.3《微電子技術用貴金屬漿料測試方法 方阻測定》測試要求
  
| 更新時間 2025-01-09 20:00:00 價格 請來電詢價 測試周期 5-7天 寄樣地址 深圳寶安 價格費用 電話詳談 聯系電話 17324413130 聯系手機 17324413130 聯系人 羅卓文 立即詢價 |
詳細介紹
| 標準號 Standard No. | 中文標準名稱 Standard Title in Chinese | 英文標準名稱 Standard Title in English | 狀態 State | 備注 Remark |
| GB/T 17473.3-1998 | 厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法 方阻測定 | Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of sheet resistance | 廢止 | 1999-03-01實施 |
| GB/T 17473.3-2008 | 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 方阻測定 | Test methods of precious metals pastes used for microelectronics Determination of sheet resistance | 現行 | 2008-09-01實施,代替GB/T 17473.3-1998 |
本標準規定了微電子技術用貴金屬漿料中方阻的測定方法。本部分適用于微電子技術用貴金屬漿料方阻的測定。
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Test Item 測試名稱: GB/T 17473.3 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 方阻測定
Test Requirement 測試要求：
Sample Size 樣品數量 / 送樣規格: 300ml or 300g
Lead Time / TAT (Turn Around Time) 測試周期：常規服務 Regular service 12 working days
Report Summary 報告摘要:
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- 檢測工程師：羅卓文
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